差示扫描量热仪使样品处于一定的温度程序(升温/降温/恒温)控制下，观察样品端和参比端的热流功率差随温度或时间的变化过程，以此获取样品在温度程序过程中的吸热、放热、比热变化等相关热效应信息，计算热效应的吸放热量(热焓)与特征温度(起始点、峰值、终止点、峰面积)等参数的仪器。
差示扫描量热仪使用过程中可能会因为一些操作原因导致仪器出现故障，终结果出现偏差，所以要按照正确的使用流程操作，才能得到正确的结果。
差示扫描量热仪上用到了什么样的传感器呢？
差示扫描量热仪的心脏是基于MEMS技术的芯片传感器。MEMS芯片传感器安置于稳固的有电路连接端口的陶瓷基座上。全量程传感器有16对热电偶，试样面和参比面各8对。常规DSC中为保护传感器，将试样放在坩埚内测试，坩埚的热容和导热性对测量有显著影响。Flash DSC中试样直接放在丢弃型芯片传感器上进行测试。
Flash DSC基于功率补偿测试原理，动态功率补偿电路可使超高升降温速率下的测试噪声小化。传感器的试样和参比面各有热阻加热块，一起生成需要的温度程序。加热块由动态功率补偿控制。热流由排列于样品面和参比面的各8对热点偶测量。
只有当试样足够小并与传感器接触很好时，快速加热或冷却才有可能。在开始升温时，试样熔融，与传感器的热接触因而改善。然后，通过有意识地改变降温速率可产生定义的试样结构。因为升温速率快，所以试样在加热时没有时间改变结构。超高的降温和升温速率范围允许用户在一次实验中测量许多不同的试样结构。
